Projekter pr. år
Personlig profil
Forskningsprofil
Francesco Iannuzzo modtog sin kandidatgrad i Electronikingeniør og sin ph.d. grad i Electronic and Information Engineering fra Napoli universitetet, Italien, i henholdsvis 1997 og 2002.
Han er i dag professor i pålidelig effektelektronik ved AAU Energi, Aalborg Universitet, Danmark. Hans forskningsinteresser er inden for pålidelighed af effektelektroniske enheder, tilstandsmonitorering, fejlmodellering og test til fejl, både under power cykling og unormale tilstand. Han er forfatter eller medforfatter til mere end 300 publikationer i tidsskrifter og internationale konferencer, fem bogkapitler og har redigeret en bog om Modern Power Electronic Devices (2020, IET). Han har givet mere end 30 tekniske seminarer, keynotes og inviterede taler på topkonferencer som ISPSD, IRPS, EPE, ECCE, PCIM og APEC.
Prof. Iannuzzo har været associeret redaktør for IEEE JESTPE og for OJ-PE. Han fungerer i øjeblikket som PELS Adcom member-at-large og som formand for IEEE IAS Power Electronic Devices and Components Committee. Han var hovedformand for ESREF-konferencen i 2018, IWIPP-konferencen i 2022 og EPE-ECCE Europe-konferencen i 2023.
Ekspertise relateret til FN’s Verdensmål
I 2015 blev FN's medlemslande enige om 17 Verdensmål til at bekæmpe fattigdom, beskytte planeten og sikre velstand for alle. Denne persons arbejde bidrager til følgende verdensmål:
Uddannelse (Akademiske kvalifikationer)
Ingeniør, ph.d., Study on failure mechanisms of power electronic devices under critical conditions (2nd breakdown), University of Naples Federico II
Dimissionsdato: 1 mar. 2002
Emneord
- Elektronik
- Energi
Fingerprint
- 1 Lignende profiler
Samarbejde i de sidste fem år
-
New Concepts for Multi-stressor Accelerated Testing of Power Electronic Components
Zhang, K., Blaabjerg, F. & Iannuzzo, F.
01/10/2023 → 30/11/2024
Projekter: Projekt › Ph.d.-projekt
-
ISLE: Impact of Short‐circuit Events on Lifetime Expectancy of SiC MOSFETs
Iannuzzo, F., Sangwongwanich, A. & Frøstrup, S.
ECPE Engineering Center for Power Electronics GmbH
15/05/2023 → 31/12/2024
Projekter: Projekt › Forskning
-
ALL2GaN: Affordable smart GaN IC solutions as enabler of greener applications
Iannuzzo, F., Bahman, A. S., Novak, M., Sangwongwanich, A., Zhao, S. & Frøstrup, S.
Horizon - Chips Joint Undertaking
01/05/2023 → 30/04/2026
Projekter: Projekt › Forskning
-
Modeling and Design of Accelerated Reliability Testing for Power Semiconductors
Yu, X., Zhou, D. & Iannuzzo, F.
01/06/2021 → 31/05/2024
Projekter: Projekt › Ph.d.-projekt
-
Stress tests on electronic power modules to assess reliability
01/05/2022 → 31/07/2023
Projekter: Projekt › Forskning
Publikationer
-
Figures-of-Merit Study for Thermal Transient Measurement of SiC MOSFETs
Zhang, Y., Zhang, Y., Wong, V. H., Kalker, S., Caruso, A., Ruppert, L., Iannuzzo, F. & Doncker, R. W. D., 2024, I: IEEE Transactions on Power Electronics . PP, 99, s. 1-13 13 s., 10483537.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
-
Comparison of Junction Temperature Measurement Using the TSEP Method and Optical Fiber Method in IGBT Power Modules without Silicone Gel Removal
Zhang, K., Leduc, C. & Iannuzzo, F., 2023, PCIM Europe 2023: International Exhibition and Conference for Power Electronics, Intelligent Motion, Renewable Energy and Energy Management. VDE Verlag GMBH, 8 s.Publikation: Bidrag til bog/antologi/rapport/konference proceeding › Konferenceartikel i proceeding › Forskning › peer review
Åben adgangFil136 Downloads (Pure) -
Ferrite Beads Design to Improve Turn-off Characteristics of Cascode GaN HEMTs: An Optimum Design Method
Xue, P. & Iannuzzo, F., 1 jun. 2023, I: IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics. 11, 3, s. 3184-3194 11 s., 10097721.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Fil302 Downloads (Pure) -
Investigating the solder mask defects impact on leakage current on PCB under condensing humidity conditions
Zhang, K., Bahman, A. S., Iannuzzo, F., Chopade, A. R., Holst, J., Rao, J. M., Bahrebar, S. & Ambat, R., nov. 2023, I: Microelectronics Reliability. 150, 115210.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgangFil88 Downloads (Pure) -
Lifetime analysis of two commercial PV converters using multi-year degradation modelling
Fogsgaard, M. B., Zhang, Y., Bahman, A. S., Iannuzzo, F. & Blaabjerg, F., sep. 2023, I: e-Prime - Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy. 5, s. 1-9 9 s., 100205.Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › peer review
Åben adgangFil1 Citationer (Scopus)28 Downloads (Pure)
Priser
Presse/medier
-
-
Nyt testcenter med fokus på effektelektronik
Francesco Iannuzzo & Frede Blaabjerg
04/09/2020
2 elementer af Mediedækning
Presse/medie
-
En stjerneforsker fra den kinesiske flåde så potentiale i dansk forskning
Francesco Iannuzzo & Mogens Rysholt Poulsen
27/07/2020
2 elementer af Mediedækning
Presse/medie
-
Universitet hjalp Kinas flådeekspert
Francesco Iannuzzo & Mogens Rysholt Poulsen
27/07/2020
3 elementer af Mediedækning
Presse/medie
-
Nye små halvledere bliver hurtigere slidt op af varme og stress
03/07/2020
1 element af Mediedækning
Presse/medie